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    測量投影儀,一鍵測量儀,認準上海臺碩檢測儀
    文章出處:臺碩儀器      人氣:325      作者:admin       發表時間:2018-08-28 02:29:27
    測量投影儀,一鍵測量儀,認準上海臺碩檢測儀器,三坐標測量儀的知識
    在產品的測繪過程中,往往不能在同一坐標系將產品的幾何數據一次測出。其原因一是產品尺寸超出測量機的行程,二是測量探頭不能觸及產品的反面,三是在工件拆下后發現數據缺失,需要補測。這時就需要在不同的定位狀態(即不同的坐標系)下測量產品的各個部分,稱為產品的重定位測量。而在造型時則應將這些不同坐標系下的重定位數據變換到同一坐標系中,這個過程稱為重定位數據的整合。
    對于復雜或較大的模型,測量過程中常需要多次定位測量,最終的測量數據就必需依據一定的轉換路徑進行多次重定位整合,把各次定位中測得的數據轉換成一個公共定位基準下的測量數據。
     
     
    三坐標測量機(CMM)的測量方式通??煞譃榻佑|式測量、非接觸式測量和接觸與非接觸并用式測量。
    其中,接觸測量方式常用于機加工產品、壓制成型產品、金屬膜等的測量。為了分析工件加工數據,或為逆向工程提供工件原始信息,經常需要用三坐標測量機對被測工件表面進行數據點掃描。本文以三坐標的FOUNCTION-PRO型三坐標測量機為例,介紹三坐標測量機的幾種常用掃描方法及其操作步驟。
    三坐標測量機的掃描操作是應用PC DMIS程序在被測物體表面的特定區域內進行數據點采集,該區域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線等。掃描類型與測量模式、測頭類型以及是否有CAD文件等有關,控制屏幕上的“掃描”(Scan)選項由狀態按鈕(手動/DCC)決定。若采用DCC方式測量,又有CAD文件,則可供選用的掃描方式有“開線”(Open Linear)、“閉線”(Closed Linear)、“面片”(Patch)、“截面”(Section)和“周線”(Perimeter)掃描;若采用DCC方式測量,而只有線框型CAD文件,則可選用“開線”(Open Linear)、“閉線”(Closed Linear)和“面片”(Patch)掃描方式;若采用手動測量模式,則只能使用基本的“手動觸發掃描”(Manul TTP Scan)方式;若采用手動測量方式并使用剛性測頭,則可用選項為“固定間隔”(Fixed Delta)、“變化間隔”(Variable Delta)、“時間間隔”(Time Delta)和“主體軸向掃描”(Body Axis Scan)方式。



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